可用于安检分析设备的滨松CMOS线阵图像传感器
而在未来安检设备的发展中，小型化、便捷化是一个显著的趋势，因此对其核心探测器也有了新的要求。会上滨松亦展示了近年研制的可替代的新型探测器，如由滨松公司固体事业部研制的MPPC（多像素光子计数器）及模块产品。该产品相对现有传统的PD探测器，具有灵敏度更高、集成化更高的优势，可有效改善安检设备发射源体积大、防护困难、成本高的问题，在保证甚至提高安检设备性能的前提下，为其体积的缩小提供了可能。
可用于个人辐射计量仪的MPPC产品
滨松MPPC模块产品，可用于手持式辐射计量仪
除了普通安检设备以外，随着人们对公共安全的更多关注和要求，高端安检设备，如安检CT在近年也得到了国内较多的注目。而滨松可为该类设备的开发，提供ODM探测器等产品，并以此带动安检新型应用的发展。
“立足创新，技术先行”，会中与会双方共同展望了安检行业以及相关探测器技术的发展，并共同相信新型应用的需求能更好的促进技术的快速发展，更高技术的出现也定会为新型应用提供更多的可能。而安检设备将不断朝着“安检系统”的方向努力，为各方面的安全护航提供更完善的安检方案，从而筑建更加坚实的保障系统。
滨松公司固体事业部山本晃永先生
同方威视总裁陈志强先生
晶体分会场，与会人员积极进行提问
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