每两年举办一次的北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA）创办于1985年，由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。BCEIA的会议内容主要包括：国内外专家、学者参加的分析测试学术报告会；国际分析仪器、生命科学等仪器设备展览会；有关分析测试科技发展的高层论坛，是在中国举办的该领域规模最大和最有影响力的国际性学术会议和展览会。
第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会将于2013年10月23日至26日在北京展览馆举行，滨松中国将参展此次会议，参展产品包括光电倍增管及其附件、光电倍增管模块、氙灯、氘灯、图像传感器、半导体探测器等，我们的展位位置在北京展览馆11号展馆11048#和11049#，敬邀国内外行业专家和客户莅临参观。
如您欲了解滨松中国参展此次展会的相关事项和产品，请您致电滨松中国010-65866006。
