滨松将于中国质谱学术大会发布质谱用新一代器件的技术报告
发布时间:2018-11-20 ,活动时间:2018年11月23日 ,活动地点:广州市东方宾馆

由中国质谱学会(中国物理学会质谱分会)、中国化学会质谱分析专业委员会和中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器专业委员会联合主办的“2018年中国质谱学术大会”(CMSC 2018),将于2018年11月23-26日在广州市东方宾馆举办。

本次大会以“中国质谱新时代”为主题,覆盖内容包括质谱基础与理论、质谱仪器研发、质谱新方法新技术、生命科学与医学、材料与能源、环境与食品、地球科学与资源、公共安全等。

随着器件、材料学、工业水平的提高,质谱仪的技术含量和创新一直在进化;与此同时,人们对科学的探索,检测的下限越来深化,应用的场景也不限于条件理想的实验室,走向了人类工业的细分行业,走向更加苛刻和复杂的场景。这就对质谱仪的组件,材料提出了新的,更高的,甚至不可预测的要求。

滨松拥有65年光电探测器的研制经验,享誉世界,而在质谱用探测器技术的耕耘也已有40年的历史,可为质谱提供离子化光源、电子倍增器(EM)、微通道板(MCP)等产品。而在2018年,也陆续推出了一系列用于质谱电离和探测部分的新品,为质谱仪器的发展带来了新的可能。

在本次大会的“质谱仪器研发”分论坛中,滨松带来《新一代器件提高质谱探测的性能》的技术报告(11月24日,14:50-15:05,2号楼8层东方厅)。本报告将围绕滨松最新发布的多项质谱用光电探测技术,从探测器角度为解决目前多个质谱仪研发技术难题提供了更多可能。报告将展示包括高气压下(达1Pa)仍可高增益正常工作的栅网阳极结构第三代MCP、大幅简化和缩短MALDI-TOF-MS前处理时间的铝膜辅助电离基板(DIUTHAME)、雪崩二极管机构的MCP、通道式电子倍增器等。详细的新品信息及大量的实验结果和数据将集中在报告中体现。

而关于栅网阳极结构第三代MCP和铝膜辅助电离基板(DIUTHAME),我们也将带来两篇精彩的论文,于“质谱仪器研发”墙报区展示(11月24日,一层B厅):

论文编号:18110616 Development of the Triode-type MCP-based Compact Ion Detector for High Pressure Operation in Miniature Mass Spectrometer
论文编号:18110617 Study for new imaging mass spectroscopy by using new ionization method (DIUTHAME)

同时,滨松也将把2018年发布的所有新品,以及质谱用经典的离子化光源及探测器于展台中进行展示(B12),欢迎莅临参观、沟通。

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