2021年4月8日-10日为期三天的第二届全国光电材料与器件学术研讨会在武汉这座“英雄”城市圆满落幕。4月8日大会开始的第一天对武汉来说是个非同寻常的日子，武汉解封一周年纪念日。这一天对于第二届全国光电材料与器件学术研讨会也是意义非凡，在众多专家学者与企业的支持下，本届研讨会有来自武汉理工大学、武汉大学、华中科技大学等众多高校的600余位科研专家参与其中，共同探讨了光电材料与器件领域研究热点，开展了广泛的学术研讨，交流了最新研究进展。江城水暖，春光复苏。再次向武汉这座英雄城市表示敬意与祝福的同时，也希望光电材料与器件学术研讨会可以从武汉开始带给业内人士更多专业的信息、更多前沿的展望以及更多产学研用相结合的机会。

会议期间，滨松中国销售技术工程师丁珏发表了《滨松发光材料&器件检测的新花样》的报告，详细讲解了滨松对于上转换测试、EQE测试、分子取向测试、小尺寸器件测试、TREL测试等内容最新的研究进展，并介绍了滨松在相关应用方面的产品，其中新颖的观点与强有力的论据支持，引起现场众多专家学者的赞同。

在本次展会中，滨松中国与合作代理商睿光科技共同参展。为了让客户对滨松的产品有更加直观的了解，Quantaurus-QY Plus C13534-11也与销售工程师一同亮相展会现场。相比较于传统的荧光量子效率的测量仪，该款产品有了三点新突破：1、可以在近红外区域到1650nm波长范围内进行测量；2、能准确测量1%甚至更低的量子产率；3、可以进行上转换发射材料的测量。

滨松是一个拥有雄厚光子技术实力的公司，有着非常齐备的光电产品线，可为发光材料基础研究测试提供一些列产品，如荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau、光源控制器、积分球、多通道探测器、光源控制器等等，来满足不同的测量需要。滨松的该系列产品也已在世界范围内得到了诸多行业知名专家和学者的认可。