绝对量子产率测量仪 >

C9920系列绝对PL量子产率光谱仪采用PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。C9920系列产品包括激发光源，单色器，能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的CCD光谱仪。 专用软件使操作变得简单。 两个样品架可用于容纳液体样品的薄膜，粉末和比色皿。 C9920-02和-03系统适用于工业，生物和学术研究等各个领域。

Quantaurus-QY绝对量子产率测量仪 >

Quantaurus-QY绝对量子产率测量仪是一种紧凑，操作便捷的测量仪，基于滨松已经开发的C9920-02，-02G / 03，-03G系统而研发，主要用于测量绝对光致发光量子产率。该测量仪操作简单，加载样品并按下开始按钮，在短时间内测量光致发光量子产率，激发波长依赖性，PL激发光谱和其他数据。

外量子效率测量系统 >

发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（EL）方法测量。 为了获取以上的相关数据，滨松设计了外量子效率测量系统C9920-12系统。OLED器件的发光效率取决于各种因素，例如各层膜和玻璃基板的吸收率，表面的反射率，玻璃基板的辐射角和波导能力，所以滨松通过采用集成球作为样品室来抵消这些因素造成的影响。

光分布测量系统 >

有机LED或其他光源等器件的发射波长随视场变化很大。因此，为了得到上述样品的有效参数，就需要测量不同检测角度的亮度，色度和发射光谱。 滨松 C9920-11光分布特性测量系统使用旋转台以及高灵敏度探测器，可以轻松满足以上要求，精准测量上述参数。

Quantaurus-QY Plus 紫外近红外绝对量子产率测量仪 >

Quantaurus-QY Plus（紫外近红外绝对量子产率测量仪C13534-11，-12）主要用于测量光致发光方法发射量子产率的瞬时绝对值。 根据待测量的波长区域，滨松提供两种波长的产品，C13534-11（300nm至950nm）和C13534-12（400nm至1100nm）。 此外，新增功能选项可轻松测量高达1650 nm的近红外，并且保持高灵敏度（低量子产率的评估）和转换发射测量。