用于X射线无损检查的背照式光电二极管阵列
S12362-321是一款专用于X射线无损检查的背照式16象元光电二极管阵列。该背照式二极管易于使用，便于和闪烁体耦合，由于它在背部没有光敏面，也没有焊接线，因此不需要担心对线路的损坏。
产品特性
● 象元尺寸：2.2(W) × 2.7 (H) mm / 单象元
● 象元间距：2.5 mm (× 16 pixels)
● 板上尺寸：40.4 (W) × 10.2 (H) mm
● 多阵列，长而窄的设计版式
● 支持双能成像（上下两层结合使用时）
| 元素大小(每1列) | 2.2 × 2.7 mm |
| 像元个数 | 16 |
| 封装 | Glass epoxy |
| 封装类型 | With scintillator |
| 闪烁体类型 | GOS ceramic |
| 制冷方式 | Non-cooled |
| 暗电流 (最大值) | 50 pA |
| 上升时间 (典型值.) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 75 pF |
| 测量条件 | Ta=25 ℃, per element |
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