背照型光电二极管阵列，用于x射线无损检测，细长板型
S11299-021是一款背照式16元光电二极管阵列，专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比，它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点，而且易于耦合到闪烁体，因为其背面没有接合线和光敏区域，不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像，因为它可与S11212系列[尺寸：25.4（宽）×20.0（高）mm]结合使用，配置上下两层结构，同时检测高、低X射线。
产品特征
● 光谱响应范围：340至1100nm
● 元件尺寸：1.175（宽）×2.0（高）mm /单个元件
● 元件间距：1.575毫米（×16像素）
● 安装在板上尺寸：25.4（宽）×10.2（高）mm
● 多种组合形式，宽窄均能适用
● 支持双能量成像（用于上下两层结构）
该产品的芯片未密封并暴露在外。 芯片上的电极等部件没有外壳或窗户的保护，因此与普通产品相比，在处理过程中需要特别小心。
在使用本产品之前，请务必阅读下面pdf文件“未密封产品/注意事项”。
Unsealed products / Precautions [PDF]
像素尺寸（单个） | 1.175 × 2.0 mm |
|---|---|
像素个数 | 16 |
封装 | Glass epoxy |
封装类型 | Unsealed |
闪烁体种类 | None |
冷却方式 | Non-cooled |
| 光谱响应 | 340 to 1100 nm |
峰值灵敏波长（典型值） | 920 nm |
光敏度（典型值） | 0.61 A/W |
暗电流（最大值） | 30 pA |
截至频率（典型值） | 6.5 μs |
终端电容（典型值） | 40 pF |
| 注意 | This photodiode array as it is does not function as an X-ray detector. An appropriate scintillators or phosphor sheet should be added at user’s side. |
测量条件 | Ta=25 ℃, per element, Photosensitivity: λ=λp |
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