X射线无损检测背照式光电二极管阵列，细长板类型
S11299-321是一款背照式16元光电二极管阵列，专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比，它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点，而且易于耦合到闪烁体，因为其背面没有接合线和光敏区域，不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像，因为它可与S11212系列[尺寸：25.4（宽）×20.0（高）mm]结合使用，配置上下两层结构，同时检测高、低X射线。
产品特性
● 元件尺寸：1.175（宽）×2.0（高）mm /单个元件
● 元件间距：1.575 mm（×16像素）
● 安装在板上尺寸：25.4（宽）×10.2（高）mm
● 多种组合形式，宽窄均能适用
● 支持双能量成像（用于上下两层结构）
| 元素大小(每1列) | 1.175 × 2.0 mm |
| 像元个数 | 16 |
| 封装 | Glass epoxy |
| 封装类型 | With scintillator |
| 闪烁体类型 | GOS ceramic |
| 制冷方式 | Non-cooled |
| 暗电流 (最大值) | 30 pA |
| 上升时间 (典型值.) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 40 pF |
| 测量条件 | Ta=25 ℃, per element |
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