用于X射线无损检测的背照式光电二极管阵列 细长板类型
S11299-021 是一款专用于X射线无损检查的背照式16象元光电二极管阵列。它比我们之前的S5668系列相比，具有更高的灵敏度一致性和更小的象元变化。该背照式二极管更加易于使用，更便于和闪烁体耦合，由于它在背部没有光敏面，也没有焊接线，因此不需要担心对线的损坏。 S11299 系列支持双能成像，因此可以与S11212系列结合使用（板上尺寸：25.4 (W) ×20.0 (H) mm），组成上两层的双层结构，同步检测高、低X射线。
产品特性
● 象元尺寸：1.175 (W) × 2.0 (H) mm / 单象元
● 象元间距：1.575 mm (× 16 pixels)
● 板上尺寸：25.4 (W) × 10.2 (H) mm
● 多阵列，长而窄的设计版式
● 支持双能成像（上下两层结合使用时）
| 元素大小(每1列) | 1.175 × 2.0 mm |
| 像元个数 | 16 |
| 封装 | Glass epoxy |
| 封装类型 | With scintillator |
| 闪烁体类型 | Phosphor sheet |
| 制冷方式 | Non-cooled |
| 暗电流 (最大值) | 30 pA |
| 上升时间 (典型值.) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 40 pF |
| 测量条件 | Ta=25 ℃, per element |
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