用于X射线无损检查的背照式光电二极管阵列(象元间距:2.5 mm)
S12363-021是一款专用于X射线无损检查的背照式16象元光电二极管阵列。该背照式二极管易于使用,便于和闪烁体耦合,由于它在背部没有光敏面,也没有焊接线,因此不需要担心对线的损坏。
产品特性
● 特殊响应范围:340 – 1100 nm
● 象元尺寸:2.2(W) × 2.7 (H) mm / 单象元
● 板上尺寸:40.4 (W) × 20.0 (H) mm
● 多阵列,长而窄的设计版式
● 支持双能成像(上下两层结合使用时)
元素大小(每1列) | 2.2 × 2.7 mm |
像元个数 | 16 |
封装 | Glass epoxy |
封装类型 | Unsealed |
闪烁体类型 | None |
制冷方式 | Non-cooled |
光谱响应范围 | 340 to 1100 nm |
峰值灵敏度波长(典型值) | 920 nm |
灵敏度 (典型值) | 0.61 A/W |
暗电流 (最大值) | 50 pA |
上升时间 (典型值.) | 6.5 μs |
结电容(典型值) | 75 pF |
注意 | This photodiode array as it is does not function as an X-ray detector. An appropriate scintillator or phosphor sheet should be added at user’s side. |
测量条件 | Ta=25 ℃, per element, Photosensitivity: λ=λp |
本产品芯片未密封,外露。芯片上的电极等部件不受外壳或窗户的保护,因此与普通产品相比,在操作过程中需要特别严格的保养。
在使用本产品之前,请务必阅读以下“未密封产品/注意事项”。