InGaAs线阵扫描相机 C15333-10E

SWIR(短波红外)成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。


将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频,高灵敏度的相机,针对这些应用,滨松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs线阵扫描相机

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详细参数 产品特征 产品应用 光谱响应范围 外形尺寸图(单位:mm)

详细参数

产品型号 C15333-10E
有效像素数 1024 (H) × 1 (V)
像素尺寸 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效面积 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
满阱容量 Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons
读出速度 Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz
曝光时间 21 μs to 1 s (1 μs step)
外部触发输入 Sync readout
外部触发信号路径 12 pin SMA or HIROSE connector
图像处理功能 Background subtraction, Real time shading correction
接口 Gigabit Ethernet
A/D转换器 14 bit
镜头卡口 C mount
电源 DC 12 V
量子效率 above 60 % (1100 nm ~ 1600 nm) *
功耗 6 W max.
推荐环境工作温度 0 ℃ to +40 ℃
环境储存温度 -10 ℃ to +50 ℃
环境工作湿度 30 % to 80 % (with no condensation)
环境储存湿度 90 % max. (with no condensation)
成像器件 InGaAs line sensor

* Representative value

产品特征

● SWIR高灵敏度,覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
● 大视场高分辨率,1024像素线阵
● 高行频输出,最大线路速率:40 kHz
● 紧凑轻巧的设计:49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.),

● 小巧轻便,重量约250克
● 高质量的图像以及优秀的矫正功能
●GigE Vision接口


产品应用

● 食品和农产品(损坏检查,质量筛选,材料歧视等)
● 半导体(硅晶片图案检查,EL / PL的太阳能电池检查等)
● 工业(水分,泄漏检测,容器检查等)

光谱响应范围

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外形尺寸图(单位:mm)

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