| 产品型号 | C15400-30-50A |
| 探测器晶体类型 | GOS/GOS |
| X射线容限 | Approx. 25 kV to 110 kV |
| 分辨率 | 4096 (H) × 128 (V) *1 |
| 扫描速度 | 1.758 m/min to 153.8 m/min |
| 行频 | 1×1: Max. 17.5 kHz (153.8 m/min) binning 2×2: Max. 17.0 kHz (298.8 m/min) |
| 检测宽度 | 300 mm, 2048 pixels |
| 数据接口 | Base Configuration (Camera Link) |
| A/D数据位 | 12 bit |
| 输出信号类型 | 12 bit digital output |
| 可探测X射线能量范围 | Approx. 25 kV to 110 kV |
| 像素时钟 | 40.0 MHz (Camera Link) |
| 电源 | DC+24 V |
| 功耗 | Approx. 45 VA |
*1 The horizontal pixel count is the sum of the low and high energy side counts.
● 线速度：153.8 m / min
● 检测宽度：300毫米，2048像素
● 像素大小：146.5μm×146.5μm
● 支持双能X射线检测
铝片检测
可以用于检测铝片的平整度、压痕以及条纹等。
轻质零件检测
当粘合轻质零件时，会观察到粘合剂中不均匀的涂层和空隙。
安检
可以检测到信封或包裹中的纸币
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