滨松红外线扫描InGaAs相机C15333-10E产品介绍
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SWIR（短波红外）成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来确保产品质量，包括检查包装中的液体量，检查密封容器的内容以及检测农产品中的损坏和杂质等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶片和太阳能电池缺陷检测。
将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频，高灵敏度的相机。针对这些应用，Hamamatsu目前正式推出了新型C15333-10E InGaAs线扫描相机。
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C15333-10E InGaAs线扫描相机于11月1日正式发布，它是Hamamatsu SWIR和NIR（近红外）成像技术产品线其中一员。该产品线还包括用于高质量检测的InGaAs面阵相机。这款新相机非常适合使用SWIR成像，可以进行实时，在线无损检测，并具有以下功能：
1、在SWIR区域的高灵敏度
2、高行频
3、1024像素线阵
4、GigE Vision接口
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覆盖950 nm to 1700 nm的光谱范围,并且在1100 nm to 1600 nm内有超过60%的量子效率QE。
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与滨松的InGaAs面阵相机C12741-03（具有640×512像素）相比，该相机的1024像素线性阵列可捕获较大的视野。
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最高40 kHz的行频，从而使该相机适合于高速在线检查。
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滨松优秀的电路设计可实现低读出噪声和高性能的完美融合。像素校正功能可校正热像素以及传感器的非均匀性响应。
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该相机采用了在工业领域广泛使用的千兆以太网接口，并且支持GigE Vision。
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相比于面阵SWIR的昂贵价格，该相机超高的性价比更适合产线设计。
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由于其大小和色相与咖啡豆相似，在可见图像中难以检测到的石头可以在SWIR图像中轻松检测到。
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密封果汁或酸奶容器中的液位可通过SWIR成像看到。
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在SWIR图像中可以轻松检测到由于其大小和色相与稻米相似而难以在可见图像中检测到的杂质。
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