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本文主要介绍测量APD增益的方法。
从这张图可以知道，当反向电压为0时，APD的增益为1，也就是和PD一样，并未发生雪崩，此时输出信号为IO；在相同的光强下，随着电压的增加，增益增加，输出信号IP有所增加，增益计算如下：M= IP / IO 。
下图为测量APD增益的示意图：
值得注意的是，不同的光场分布，对于最终的增益测量有所区别。如LED发散后照射到整个芯片，或者LED经过聚光，只照射到光敏面。具体原因如下：
芯片包含两部分，光敏面和间隙均具有灵敏度，然而，信号只有到光敏面内部才能够被倍增。
滨松的测试条件为LED发散后照射到整个芯片，包括光敏面和间隙。
输出信号=光敏面的输出+间隙的输出。
假设光敏区输出为8，间隙输出为2，则输出信号应为10。当我们要将输出信号放大60倍时，光敏面输出需要达到598。
然而，这种情况下光敏面的增益为74.75（598/8）。
因此，如果使用标签上 (M = 60)的电压 VR，并且光仅入射到感光面内探测，增益将大于60。
总结
本文介绍了滨松对于APD增益的测试方法和光源条件。需要注意，由于光场分布的差异会影响APD的增益测量结果，客户可根据实际的探测光源条件来评估。
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